電路板維修測(cè)試儀也稱作在線電路維修測(cè)試儀和電路板故障檢測(cè)儀，是一種通用型電路板故障檢測(cè)設(shè)備。電路板維修測(cè)試儀目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電路板維修和元器件檢測(cè)領(lǐng)域，常見的航空航天、通信醫(yī)療、軍事裝備、冶金石化等領(lǐng)域都會(huì)使用到電路板維修測(cè)試儀，那么電路板維修測(cè)試儀如何使用呢?一起來(lái)了解一下吧!

        電路板維修測(cè)試儀主要的測(cè)試方法包含兩種類型，分別是集成ic功能測(cè)試和vi曲線測(cè)試。

        首先我們介紹第一種，電路維修測(cè)試儀對(duì)集成IC功能測(cè)試的過(guò)程是：基于集成IC設(shè)備庫(kù)，將測(cè)試信號(hào)應(yīng)用于測(cè)試集成IC的每個(gè)輸入管腳，提取集成IC輸出信號(hào)，并與理論值進(jìn)行比較。當(dāng)比較結(jié)果一致時(shí)，測(cè)試集成IC功能正確。當(dāng)不一致時(shí)，測(cè)試集成IC功能不正確。

        測(cè)試軟件包括通用集成IC設(shè)備庫(kù)，如74系列、4000系列、模擬集成IC設(shè)備系列、電壓比較器系列等。如果集成IC模型被拋光或識(shí)別不清楚，只要集成IC存在于設(shè)備庫(kù)中，功能完好，輸入集成IC管腳數(shù)，循環(huán)測(cè)試信號(hào)和理論值比較，就可以識(shí)別集成IC的設(shè)備模型。

        第二種，vi曲線測(cè)試。vi曲線測(cè)試一般是適用于超出器件庫(kù)范圍的集成ic以及晶體管和阻容器等等。為什么叫做vi曲線呢?因?yàn)檫@個(gè)測(cè)試方法的過(guò)程是在線路兩個(gè)結(jié)點(diǎn)之間注入一定范圍和頻率的周期信號(hào)，從而在顯示坐標(biāo)上形成電流隨電壓變化的函數(shù)曲線，所以叫做vi曲線。部件故障通常伴隨著管腳之間阻抗特性的變化。通過(guò)比較電路板(或設(shè)備)上相同結(jié)點(diǎn)之間的VI曲線，可以找到阻抗特性變化的結(jié)點(diǎn)，從而確定故障部件。直接觀察或比較VI曲線的過(guò)程稱為VI曲線測(cè)試。由于單坐標(biāo)系下VI曲線測(cè)試存在盲點(diǎn)，5坐標(biāo)系的5CVI曲線可以消除VI曲線測(cè)試的盲點(diǎn)問(wèn)題。

        VI曲線測(cè)試支持IC測(cè)試夾、測(cè)試插座、測(cè)試筆等，操作靈活。電路維護(hù)測(cè)試儀可以在計(jì)算機(jī)中存儲(chǔ)電路板上部件或電路結(jié)點(diǎn)的VI曲線信息，用于維護(hù)過(guò)程中的比較測(cè)試。由于VI曲線測(cè)試不屬于設(shè)備功能測(cè)試，因此不受集成IC設(shè)備庫(kù)的限制。

        當(dāng)然，電路板維修測(cè)試儀除了集成ic功能測(cè)試和vi曲線測(cè)試之外，還有光耦測(cè)試、電容測(cè)試和晶體管測(cè)試等專項(xiàng)測(cè)試，對(duì)一些元器件還能夠進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。

        以上就是關(guān)于電路板維修測(cè)試儀如何使用的全部?jī)?nèi)容分享，宇凡微專注于單片機(jī)方案開發(fā)，擁有十幾年的 MCU方案開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，致力于打造全球電子產(chǎn)業(yè)鏈最完整的單片機(jī)方案!